デュアルタイプ膜厚計 SWT-NEOⅡ

シンプルキーで簡単測定できるデュアルタイプ膜厚計SWT-NEOⅡのレンタルです。
当社は専用プローブ(SFN325)を標準装備としており、鉄・非鉄素地を自動判別して簡単に測定可能です。
※SWT-8000及び9000シリーズとのプローブの互換性はございませんのでご注意ください。

機種名
デュアルタイプ膜厚計
型番
SWT-NEOⅡ
メーカー
サンコウ電子研究所
価格
お見積もり(30日レンタル標準価格)
  • 30日レンタル標準価格はユーザー登録して頂くと表示されます。
    詳しくはログイン後の便利機能をご覧下さい
  • 消耗品・消費税は上記価格に含まれません
  • レンタル料金には最低料金がございます
This field can't be Empty
This field can't be Empty
数量

特長

  • 日本語表記への変更でより分かりやすいキー表記
  • 起こして使用できる、チルトスタンドを新たに装備
  • 単位「mil」への切り替え機能を追加
  • 全メモリデータやグループ、ブロック、セクション単位のデータはLCD画面上で統計可能
  • LCD画面上にメッセージを表示、操作手順を簡単で分かりやすい表示画面
  • 検量線を登録、選択後すぐに測定作業が開始(登録数最大10本)
  • 登録した各検量線1本ごとに1組の限界値を設定可能
    (設定値の範囲を外れた場合、点滅および警報でお知らせ)
  • スリムなボディ設計
  • 大容量の測定値メモリ機能
    メモリ数20,000点で残りメモリを気にすることなく作業可能

主な仕様

測定方式 電磁誘導式、渦電流式両用
測定範囲 鉄素地0~3.00mm、非鉄素地0~2.50mm
表示分解能 1µm:0~999µm
0.01mm:1.00~3.00mm(鉄素地)
1.00~2.50mm(非鉄素地)
切り換えにより
0.1µm:0~400µm
0.5µm:400~500µm
測定精度 0~100µm:±1µmまたは指示値の±2%以内
101µm~3.00mm:指示値の±2%以内(鉄素地)
101µm~2.50mm:指示値の±2%以内(非鉄素地)
測定精度(平滑面に対して) 0~100µm:±1µmまたは指示値の±2%以内
101µm~3.00mm:指示値の±2%以内(鉄素地)
101µm~2.50mm:指示値の±2%以内(非鉄素地)
表示方式 グラフィックLCD(データ・メッセージ)、バックライト機能付
検量線校正 2点校正式(ゼロ点、標準調整点)
測定データメモリ 最大20,000データ
データ転送 USB
統計機能 本体内蔵
付加機能 測定モード切替(ホールド/連続)
表示分解能切替、単位切替(µm/mil)
オートパワーオフ(約3分)
チルドスタンド
上/下限値設定
使用温度 0~40℃(※結露しないこと)
電源 単3アルカリ乾電池×2本 or AC100V
寸法 72(W)×156(D)×32(H)mm
重量 約200g(電池含む)