膜厚計(デジタル)デュアルタイプ膜厚計 SWT-NEOⅡ
※SWT-8000及び9000シリーズとの互換性はございませんのでご注意ください。
メーカー | サンコウ電子研究所 |
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測定項目 | 膜厚 |
特長 | <<仕様>> 測定方式 :電磁誘導式、渦電流式両用 測定範囲 :鉄素地0~3.00mm、非鉄素地0~2.50mm 測定データメモリ :最大20,000データ 測定精度(平滑面に対して) 0~100µm :±1µmまたは指示値の±2%以内 101µm~3.00mm :指示値の±2%以内(鉄素地) 101µm~2.50mm :指示値の±2%以内(非鉄素地) |