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膜厚計(デジタル)デュアルタイプ膜厚計 SWT-NEOⅡ

※SWT-8000及び9000シリーズとの互換性はございませんのでご注意ください。

デュアルタイプ膜厚計 SWT-NEOⅡ

メーカー サンコウ電子研究所
測定項目 膜厚
特長 <<仕様>>
測定方式 :電磁誘導式、渦電流式両用

測定範囲 :鉄素地0~3.00mm、非鉄素地0~2.50mm

測定データメモリ :最大20,000データ

測定精度(平滑面に対して)
0~100µm     :±1µmまたは指示値の±2%以内
101µm~3.00mm :指示値の±2%以内(鉄素地)
101µm~2.50mm :指示値の±2%以内(非鉄素地)
  • メーカーカタログ
  • 取扱説明書

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