膜厚計(アナログ)電磁式膜厚計 Pro-W
鉄素地、ライニングなどの絶縁性皮膜やメッキなどの非磁性金属皮膜の膜厚を非破壊測定する電磁式膜厚計 Pro-Wのレンタルです。
| メーカー | サンコウ電子研究所 |
|---|---|
| 測定項目 | 膜厚 |
| 特長 | ・アナログメーター式 ・小型(容積比90%)で現場に最適 ・0～5mmワイドレンジにより薄膜塗装からライニングまで測定可能 ・特殊磁極プローブ(CVD磁極)により高い耐摩耗性を実現 ・ダイヤルカバーが標準装備により調整点のずれを防ぐ ※温度差、使用環境によるメーター指針のドリフトを防止するものではありません 【仕様】 測定方式：電磁誘導式 測定対象物：鉄素地※上の絶縁性皮膜および非磁性金属皮膜(※鋼、SUS430などのフェライト系ステンレスを含む) 測定範囲：0～500μm・0.2～5mm 測定精度：均一面に対して±2μmまたは指示値の±5%、何れか大なる値 電源：単4アルカリ乾電池(1.5V)×6本 使用温度：0～40℃ (結露しないこと) 機体サイズ：110(W)×50(H)×137(D)mm ※突起部含まず 重量：約470g(乾電池除く) プローブ：2極式 磁極径=∅6mm 極間=16mm 磁極：超耐摩耗性CVD処理磁極 |
