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探傷・厚さ・膜厚・硬度

探傷・厚さ・膜厚・硬度

膜厚計電磁式膜厚計 Pro-1

鉄素地で最大5mmまでの膜厚測定が可能なアナログタイプの膜厚計です。
メーカー サンコウ電子研究所
測定項目 膜厚
特長 測定範囲：0～500μm／0.2～5mm
  • 取扱説明書

膜厚計一覧

LZ-990
デュアルタイプ膜厚計 LZ-990 NEW

ケツト科学研究所/膜厚

SWT-9200
膜厚計 SWT-9200

サンコウ電子研究所/膜厚

LE-370
電磁膜厚計 LE-370

ケツト科学研究所/膜厚

SWT-9000
デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000

サンコウ電子研究所/膜厚

SL-120C
電磁膜厚計 SL-120C

サンコウ電子研究所/膜厚

SWT-8200Ⅱ
膜厚計 SWT-8200Ⅱ

サンコウ電子研究所/膜厚

SWT-8000Ⅱ
膜厚計 SWT-8000Ⅱ

サンコウ電子研究所/膜厚

Pro-2
電磁式膜厚計 Pro-2

サンコウ電子研究所/膜厚

EDY-5000
渦電流式膜厚計 EDY-5000

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膜厚計 SWT-8200

サンコウ電子研究所/膜厚

Pro-1
電磁式膜厚計 Pro-1

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電磁式膜厚計 SM-1500D

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L-2B
電磁膜厚計 L-2B

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-373
デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-370
デュアルタイプ膜厚計 LZ-370

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デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C

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超音波式膜厚計 ULT-5000

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膜厚計 デュアルスコープMP0R

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-330J
デュアルタイプ膜厚計 LZ-330J

ケツト科学研究所/膜厚

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デュアルタイプ膜厚計 LZ-300J

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-900J
デュアルタイプ膜厚計 LZ-900J

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-300C
デュアルタイプ膜厚計 LZ-300C

ケツト科学研究所/膜厚

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