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探傷・厚さ・膜厚・硬度

探傷・厚さ・膜厚・硬度

膜厚計デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

ペンキ等の被膜の厚みを測定する膜厚計です。1台で磁性、非磁性金属の被膜測定に対応できます。

デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

webカタログ

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370・LZ-373 使用方法

メーカー ケツト科学研究所
測定項目 膜厚
特長 測定範囲

電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils

渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils
  • メーカーカタログ
  • 取扱説明書

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膜厚計 SWT-9200 NEW

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