膜厚計デュアルタイプ膜厚計 LZ-370
ペンキ等の被膜の厚みを測定する膜厚計です。1台で磁性、非磁性金属の被膜測定に対応できます。
| メーカー | ケツト科学研究所 |
|---|---|
| 測定項目 | 膜厚 |
| 特長 | 測定範囲 電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils |
膜厚計一覧
サンコウ電子研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
サンコウ電子研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
ケツト科学研究所/膜厚
