デュアルタイプ膜厚計 LZ-373
磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。
- 機種名
- デュアルタイプ膜厚計
- 型番
- LZ-373
- メーカー
- ケツト科学研究所
- 価格
- お見積もり(30日レンタル標準価格)
- 30日レンタル標準価格はユーザー登録して頂くと表示されます。
詳しくはログイン後の便利機能をご覧下さい - 消耗品・消費税は上記価格に含まれません
- レンタル料金には最低料金がございます
特長
- データメモリ数、約39,000点
- 小型・軽量のコンパクトボディ
大きさは幅75mm、長さ145mm、厚さ31mm、質量340g。片手に入る大きさですから、測定現場でも手軽に使用できます - 多機能を搭載
通常の膜厚管理で必要とする機能を網羅し装備しています。16機能を必要に応じ設定することが可能です - オプションも充実
測定スタンドLW-990を利用すると、パイプなどの測りにくい曲面の測定が容易になり、また通常の平面の測定でも繰り返し誤差や個人誤差を最小に押さえ込むことができます。プリンタVZ-330に接続することで、測定値、統計計算結果、ロット番号、日付けなどをプリントアウトすることができます。データ管理ソフトウェアの「データロガーソフトLDL-03」や、「McWAVEシリーズ」を併せてご利用いただくことで、データをMS Excel形式で保存したり、測定データの編集や各種管理図の作成も可能となります。(※測定スタンドLW-990・プリンタVZ-380はオプションです)
主な仕様
測定方式 | 電磁誘導式/過電流式兼用 |
測定対象 | 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 |
測定範囲 | 電磁誘導式:0~2,500μmまたは99.0mils 過電流式:0~1,200μmまたは47.0mils |
測定精度 | 50μm未満:±1μm、50μm以上1,000μm未満:±2%、1,000μm以上:±3% |
分解能 | 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm |
適合規格 | JIS 5600準拠 |
データメモリ数 | 約39,000点 |
検量線メモリ | アプリケーションメモリ:電磁式50本、過電流式50本の検量線を記憶 |
プローブ | 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) |
表示方法 | デジタル(バックライト付LCD)128×64Dots、表示最小桁0.1μm |
電源 | 電池1.5V(単3アルカリ)×4 |
消費電力 | 80mW(バックライト非点灯時) |
電池寿命 | 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) |
動作環境温度 | 0~40℃ |
寸法・質量 | 75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34kg |
機能
- 【付加機能】
- 測定画面と16種の機能設定画面
- アプリケーション選択
- 素地補正
- データ削除
- データメモリ
- 上下限設定
- 統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)
- 表示選択
- 日付・時刻
- 自動OFF時間
- バックライト明るさ
- バックライト時間
- 単位
- データ出力
- 自動ロット区分
- 測定方法
- メンテナンスモード
- 測定画面と16種の機能設定画面
付属品リスト・一覧
本体 | ×1 |
ケース | ×1 |
取扱説明書 | ×1 |
Feプローブ電磁式 | ×1 |
NFeプローブ渦電流式 | ×1 |
鉄素地 | ×1 |
アルミ素地 | ×1 |
標準板 (約1500/1000/500/100/50/10μm) |
各×1 |
プローブアダプタ | ×1 |
予備電池(単3) | ×4 |