日々進化する計測技術と多種・多様化するニーズにレンタルでお応えします。

探傷・厚さ・膜厚・硬度

探傷・厚さ・膜厚・硬度

膜厚計膜厚計 SWT-8200Ⅱ

1台で磁性、非磁性金属の被膜測定ができます。測定値のメモリー機能を有し、USB接続でパソコンへのデータ転送も可能です。

メーカー サンコウ電子研究所
測定項目 膜厚
特長 測定範囲
電磁式：0～2.50mm
渦電流式：0～2.00mm
  • メーカーカタログ
  • 取扱説明書

関連商品

膜厚計一覧

SWT-9200
膜厚計 SWT-9200 NEW

サンコウ電子研究所/膜厚

LE-370
電磁膜厚計 LE-370

ケツト科学研究所/膜厚

SWT-9000
デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000

サンコウ電子研究所/膜厚

SL-120C
電磁膜厚計 SL-120C

サンコウ電子研究所/膜厚

SWT-8200Ⅱ
膜厚計 SWT-8200Ⅱ

サンコウ電子研究所/膜厚

SWT-8000Ⅱ
膜厚計 SWT-8000Ⅱ オススメ

サンコウ電子研究所/膜厚

Pro-2
電磁式膜厚計 Pro-2

サンコウ電子研究所/膜厚

EDY-5000
渦電流式膜厚計 EDY-5000

サンコウ電子研究所/膜厚

SWT-8200
膜厚計 SWT-8200

サンコウ電子研究所/膜厚

Pro-1
電磁式膜厚計 Pro-1

サンコウ電子研究所/膜厚

SM-1500D
電磁式膜厚計 SM-1500D

サンコウ電子研究所/膜厚

L-2B
電磁膜厚計 L-2B

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-373
デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-370
デュアルタイプ膜厚計 LZ-370

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-200C
デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C

ケツト科学研究所/膜厚

ULT-5000
超音波式膜厚計 ULT-5000

ケツト科学研究所/膜厚

デュアルスコープMP0R
膜厚計 デュアルスコープMP0R

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-330J
デュアルタイプ膜厚計 LZ-330J

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-300J
デュアルタイプ膜厚計 LZ-300J オススメ

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-900J
デュアルタイプ膜厚計 LZ-900J

ケツト科学研究所/膜厚

LZ-300C
デュアルタイプ膜厚計 LZ-300C

ケツト科学研究所/膜厚

トップページへ

測量機・測定器・計測器

自動計測システム

サポート

copyright(c)SOOKI Co.,Ltd. All Rights Reserved.