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株式会社ソーキ

探傷・厚さ・膜厚・硬度

探傷・厚さ・膜厚・硬度

膜厚計膜厚計 ＳＷＴ－８２００Ⅱ

メーカー サンコウ電子研究所
測定項目 膜厚
特長 測定範囲
電磁式：０～２．５０ｍｍ
渦電流式：０～２．００ｍｍ
説明 １台で磁性、非磁性金属の被膜測定ができます。測定値のメモリー機能を有し、USB 接続でパソコンへのデータ転送も可能です。
  • メーカーカタログ
  • 取扱説明書

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