膜厚計デュアルタイプ膜厚計 LZ-370

Name: デュアルタイプ膜厚計LZ-370
Brand: ケツト科学研究所

ペンキ等の被膜の厚みを測定する膜厚計です。1台で磁性、非磁性金属の被膜測定に対応できます。

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370

webカタログ

メーカー	ケツト科学研究所
測定項目	膜厚
特長	測定範囲電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370・LZ-373 使用方法