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膜厚計デュアルタイプ膜厚計 LZ-330J

ペンキ等の被膜の厚みを測定する膜厚計です。1台で磁性、非磁性金属の被膜測定に対応できます。
メーカー ケツト科学研究所
測定項目 膜厚
特長 測定範囲

電磁誘導式：0～1500μmまたは60.00mils

渦電流式：0～800μmまたは32.00mils
  • メーカーカタログ
  • 取扱説明書

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